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      产品详情
      • 产品名称:x荧光镀层测厚仪器Ux-720

      • 产品型号:
      • 产品厂商:华唯
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      简单介绍:
      上海铸金分析仪器有限公司可提供多系列的涂层测厚仪、镀层厚度检测仪等形貌测量仪器。x荧光镀层测厚仪器Ux-720是具有较高精度的国产x荧光测厚仪。x荧光镀层测厚仪器Ux-720
      详情介绍:
      x荧光镀层测厚仪器Ux-720产品功能:
      1. Ux-720国产镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果佳。
      2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
      3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
      4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
      5. Ux-720镀层测厚仪采用了FlexFp -Multi技术,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果可靠。
      6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
      设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
      7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
      x荧光镀层测厚仪器Ux-720产品指标:
      测厚技术:X射线荧光测厚技术
      测试样品种类:金属镀层,合金镀层
      测量下限:0.003um
      测量上限:30-50um(以材料元素判定)
      测量层数:10层
      测量用时:30-120秒
      探测器类型:Si-PIN电制冷   
      探测器分辨率:145eV
      高压范围:0-50Kv,50W
      X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
      光管靶材:Mo靶;
      滤光片:专用3种自动切换;
      CCD观察:260万像素
      微移动范围:XY15mm
      输入电压:AC220V,50/60Hz
      测试环境:非真空条件
      数据通讯:USB2.0模式
      准直器:?1mm,?2mm,?4mm
      软件方法:FlexFP-Mult
      工作区:开放工作区 自定义
      x荧光镀层测厚仪器Ux-720标准配件:
      样品固定支架1支
      窗口支撑薄膜:100张
      保险管:3支
      计算机主机:品牌+双核
      显示屏:19寸液晶
      打印机:喷墨打印机
      x荧光镀层测厚仪器Ux-720可选配件:
      可升级为SDD探测器
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      沪公网安备 31011302004634号

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